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第三代
半導體測試家族
Third generation semiconductor testing family
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分類
QT-3107 LCR RG/CG 測試

自研LCR數(shù)字電橋，支持Mosfet RG/CG測試，也可以用于測試二極管的電容測試，分辨率1fF



支持雙DIE

精度高抗干擾

測試速度快

擴展2KV偏置

型號 QT-3107
產(chǎn)品優(yōu)勢 采用數(shù)字電橋，抗干擾能力強，測試精度高；
測試時間比模擬電橋快2-3倍；
偏置電壓最高2KV；
主要特點 測試分辨率1fF；
自帶±100V偏置源；
測試頻率：1MHz，擴展2MHz；
輸出幅度：0.025-2V;




Testing standards檢測標準