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第三代
半導體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
Prober

適用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動探針測試。 自動上下片，Wafer ID讀取。 全自動CCD視覺對針定位。 高精度定位平臺。 支持常高溫測試。 實時生成Mapping顯示Bin。 通用GPIB、TTL、R-232接口。



懸浮電源

多Site并行

多通道高精度

支持多種擴展

型號 Prober
產品介紹 適用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動探針測試。 自動上下片，Wafer ID讀取。
功能 ? 全自動CCD視覺對針定位。
? 高精度定位平臺。
? 支持常高溫測試。
? 實時生成Mapping顯示Bin。
? 通用GPIB、TTL、R-232接口。