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第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測試 IC測試系統(tǒng)
分類
 
QT-8100HP 模擬IC測試系統(tǒng) (Cable-Mount)

常規(guī) DC、AC 參數(shù)測試、分立元件 Wafer 多 site 和 IC 功能性測試 主要測試：電源管理類，馬達驅(qū)動類，音訊放大器、高速光耦、運算放大器、小功率分立裝置等



懸浮電源

多Site並行

多通道高精度

支援多種擴展

型號 QT-8100HP
產(chǎn)品優(yōu)勢 ? 20 個類比插槽（Max 216通道）/ 2 個數(shù)位插槽（ Max 32通道）
? 懸浮V/I源，四象限
? 由測試盒引出全資源，8site並測
? 數(shù)位速率100Mhz，向量深度8M
? 真並測，多路1000V/20A高壓大電流
? 18 bit 高精密採樣
? 多通道高精度時間測量單元，支援ns等級時間測量
? PCIE 卡測試效率更高




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