日日夜夜干,东京热在线播放,天天操天天曰,摸bbb搡bbbb搡bbb

第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁(yè) 產(chǎn)品中心 電晶體測(cè)試 功率器件測(cè)試系統(tǒng)
分類
 
QT-3101 UIL 雪崩測(cè)試

QT-3101 UIL 雪崩測(cè)試適用於測(cè)試MOSFET、IGBT、二極體的雪崩參數(shù)



支援雙DIE

快速充電

失效波形保存

鉗壓功能

型號(hào) QT-3101 UIL
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 支援VDD ON(E=1/2L*I*I*BVDSS/(BVDSS-VDD))或VDD OFF(E=1/2*L*I*I)測(cè)試
內(nèi)建示波器
極限能量掃描測(cè)試
可設(shè)定單脈衝、多重脈衝或雙MOSFET測(cè)試
可與QT-4100B共用一臺(tái)電腦，實(shí)現(xiàn)測(cè)試程式與資料統(tǒng)一管理
主要特點(diǎn) ? 輸出測(cè)量能力：最大測(cè)量BVdss:±3000V最大輸出ID:±150V 、±200A
? 可編輯VG MAX:±30V脈寬調(diào)節(jié)（解析度：1us）
? 可程式電感箱負(fù)載10μH-159.9mH步進(jìn)10μH
? 可程式分選機(jī)介面訊號(hào)24個(gè)

Recommend推薦產(chǎn)品